求人情報

*********************************************************************
[分子科学会速報14-010]  研究会開催のご案内
*********************************************************************

速報発信者:野口秀典(独立行政法人物質・材料研究機構)


研究会開催のご案内

公益社団法人日本表面科学会 一般社団法人日本真空学会
合同主催「第81回表面科学研究会 2014年2月研究例会」
のご案内

この度、表面科学会ではX線・中性子線技術の有用性を広く示し、
X線・中性子線技術による埋もれた界面のその場構造解析の利点
問題点を議論していただき、この分野のさらなる発展に寄与する
事を目的とし、本研究会を企画いたしました。本研究会では、
この分野を先導している6名の講師の方々をお招きし、放射光を
利用したX線・中性子線技術の埋もれた界面への適用例を紹介
していただき、最先端の研究結果を含めて講演していただきます。
多くの方々のご参加をお待ちしております。

1.日時:平成26年2月5日(水)
2.会場:東京理科大学 森戸記念館 第1会議室
     東京都新宿区神楽坂4-2-2
3.申込締切:平成26年2月5日(水)
(当日の申込みも受け付けます)
4.申込方法:表面科学会ウェブサイト 
www.sssj.org からオンラインでお申し込みください。

*詳細は http://www.sssj.org/ をご参照ください。

プログラム
10:20〜10:25
開会の挨拶
10:25〜11:05
放射光X線を利用した固液界面のその場構造追跡
近藤 敏啓(お茶の水女子大)
11:05〜11:45
X線回折法による固液界面の電気二重層構造とダイナミクス
中村 将志(千葉大学)
(休憩)
13:00〜13:40
X線・放射光による埋もれた界面クイック計測技術の現序と課題
櫻井 健次(物質・材料研究機構)
13:40〜14:20
中性子反射率計SOFIAを用いたソフトマターの表面・界面研究
山田 悟史(高エネルギー加速器研究機構)
(休憩)
14:35〜15:15
軟X線吸収分光法による電極固液界面の局所構造の解明
長坂 将成(分子科学研究所)
15:15〜15:55
X線反射率測定によるイオン液体界面の構造解析
西  直哉(京都大学)
15:55〜16:00
閉会の挨拶


*********************************************************************
分子科学会速報
発行:分子科学会
http://www.molsci.jp/index.html
速報投稿規程等は下記をご覧下さい。
http://www.molsci.jp/bulletin.html
*********************************************************************